Importante! Sobre el catálogo
| LDR | ·····nam##22·····5##4500 |
| 001 | 001977 |
| 005 | 20121203101328.0 |
| 008 | 010000s1971####xx#a###f#####|0||#0#eng#d |
| 245 | 10 | $a Medición de dispositivos semiconductores. |
| 260 | ## | $a Buenos Aires : $b Kapelusz, $c 1971. |
| 300 | ## | $a 87 p. : $b il. ; $c 21 x 14 cm. |
| 490 | 0# | $a Circuitos T ; $v no. 16 |
| 100 | 1# | $a Gillich, Helmut. |
| 653 | ## | $a Semiconductores. |
| 653 | ## | $a Circuitos. |
| 653 | ## | $a Prueba de transistores. |
| 653 | ## | $a Circuitos de prueba. |
| 653 | ## | $a Resistores. |
| 653 | ## | $a Tiristores. |
| 653 | ## | $a Diodos zener. |
| 653 | ## | $a Circuitos de prueba. |
| 040 | ## | $a AR-BaBIR $b spa |