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Applied Scanning Probe Methods III : Characterization

edited by Bharat Bhushan, Harald Fuchs.

Berlin, Heidelberg : Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2006.

v.: digital

Serie: NanoScience and Technology, ISSN 1434-4904

ISBN: 9783540269106

 
Registro springer:978-3-540-26909-0 · Modificado: 26/03/2010

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