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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits : 2nd Edition

edited by Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez.

Boston, MA : Springer, 2007.

v.: digital

Serie: Frontiers in Electronic Testing, ISSN 0929-1296 ; 34

ISBN: 9780387465470

 
Registro springer:978-0-387-46546-3 · Modificado: 26/03/2010

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